ФГУП НИИП

Стр.	Выпуск 4, 2011 г.
5-12	РАСЧЕТНЫЙ МЕТОД ОЦЕНКИ СТОЙКОСТИ БИПОЛЯРНЫХ ПРИБОРОВ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ НИЗКОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ И ИСПОЛЬЗОВАНИЕ КОНВЕРСИОННОЙ МОДЕЛИ В.С. Першенков, А.С. Бакеренков, С.А. Варламов, В.В. Беляков, В.А. Лапшинский Национальный исследовательский ядерный университет «Московский инженерно-физический институт» Проведен расчет показателя степени m показательной функции, используемой в отечественных расчетных методиках (руководящий документ РД В 319.03.37-2000 и отраслевой стандарт Российского космического агентства ОСТ 134) для оценки стойкости биполярных интегральных микросхем к воздействию низкоинтенсивного излучения космического пространства. Расчет выполнен с использованием аналитического соотношения, вытекающего из конверсионной модели эффекта низкой интенсивности в биполярных приборах. Показано, что применение универсального значения показателя степени m = 0,26 не получило экспериментального подтверждения для большинства исследованных приборов. *Ключевые слова:* метод, ионизирующее излучение, биполярные приборы, конверсионная модель
13-16	МЕТОД АВТОМАТИЗИРОВАННОГО СХЕМОТЕХНИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ЭФФЕКТОВ ВОЗДЕЙСТВИЯ ТЯЖЕЛЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ НА СОВРЕМЕННЫЕ КМОП ИМС И.А. Данилов, Б.В. Василегин, П.Н. Осипенко Учреждение Российской академии наук Научно-исследовательский институт системных исследований РАН Разработан метод автоматизированного схемотехнического моделирования эффектов воздействия тяжелых заряженных частиц на современные КМОП ИМС, позволяющий существенно сократить временные затраты на нахождение узлов ИМС, являющихся критическими с точки зрения рассматриваемых эффектов. *Ключевые слова:* моделирование, радиационная стойкость, тяжелые заряженные частицы, КМОП ИМС
17-22	*ПРОГРАММА РАСЧЕТА ПОГЛОЩЕННЫХ ДОЗ МЕТОДОМ МОНТЕ-КАРЛО* П.Р. Гильванов, А.Б. Петухов, А.С. Чеберяка ФВГОУ ВПО «Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского» Разработана программа Доза-МК, предназначенная для расчета поглощенных доз электронов, протонов, ионов, нейтронов и гамма-рентгеновского излучения в плоской, сферической и модифицированной трехмерной геометрии методом Монте-Карло. Программа разработана в среде Windows на основе пакета программ Geant4 *Ключевые слова:* ионизирующее излучение, поглощенная доза, метод Монте-Карло, Geant4
23-26	МЕТОДИКА РАСЧЕТА НАДЕЖНОСТИ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРУТУРЫ КОСМИЧЕСКОГО АППАРАТА В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ТЯЖЕЛЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ П.Р. Гильванов, А.Ф. Найданов, А.Б. Петухов ФВГОУ ВПО «Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского» Представлена методика расчета надежности радиоэлектронной аппаратуры космического аппарата (КА) в условиях воздействия тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) космического пространства (КП). Проведена оценка вероятности безотказной работы (ВБР) блока цифровой обработки информации КА в условиях воздействия ТЗЧ КП. Предложены схемотехнические решения по повышению ВБР до требуемого уровня 0,95 *Ключевые слова:* надежность, вероятность безотказной работы, тяжелые заряженные частицы
27-38	ИНТЕГРАЛЬНЫЙ ОТКЛИК ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ НА ВОЗДЕЙСТВИЕ ИМПУЛЬСНОГО ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПО АНАЛОГОВЫМ ПАРАМЕТРАМ И ЕГО ПРИЛОЖЕНИЯ В.С. Фигуров ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» Приведены обоснования основных практических приложений интегрального отклика испытываемого изделия на воздействие импульсного ионизирующего излучения (ИИИ) по аналоговым параметрам изделий q. К основным приложениям относятся: оценка области применимости линейного приближения при описании отклика q(t), эффективной длительности этого отклика, определение минимально возможного значения уровня бессбойной работы по параметру q при всех возможных значениях форм ИИИ, использование данного изделия в качестве дозиметра и при оценках относительной эффективности излучений различных моделирующих установок, оценка энергии, выделяемой в изделии ионизационным током при воздействии ИИИ. *Ключевые слова:* интегральный отклик, импульсное ионизирующее излучение, относительная эффективность, ионизационные токи, доза за импульс, минимальные уровни бессбойной работы, интеграторы
39-51	ОЦЕНКА ЭФФЕКТИВНОГО ЗНАЧЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА НЕЙТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ДАЛЬНИХ ТОЧКАХ ПОЛЯ ИЗЛУЧЕНИЯ УСТАНОВКИ БАРС-4 В.С. Фигуров, В.В. Байков, В.В. Шелковников, А.В. Васильев, М.В. Сушко ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» Отработан метод экспериментального определения эффективного значения спектрального коэффициента нейтронного излучения q_0,1эфф в дальней точке поля излучения установки БАРС-4. Значение q_0,1эфф определяется по результатам измерения зависимостей h_21Э(Ф_3,0) для биполярного транзистора 2Т203Б в дальней точке поля излучения установки и в точке с аттестованным значением спектрального коэффициента q_0,1. Оценка q_0,1эффв дальней точке поля излучения установки БАРС-4 позволяет проводить испытания кремниевых изделий с низкой стойкостью к структурным повреждениям с использованием детекторов сопровождения ³²S. Установлена нелинейность зависимости h_21Э(Ф_3,0) и предложена модель её формирования *Ключевые слова:* нейтронное излучение, спектральный коэффициент, эффективность нейтронного излучения, нелинейность
52-60	*ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МОЩНОСТИ ДОЗЫ ОТ ВРЕМЕНИ ПРИ ПОДЪЕМЕ И ОПУСКАНИИ ИСТОЧНИКОВ УСТАНОВКИ ГУ-200* В.С. Фигуров, В.В. Байков, В.В. Шелковников, О.Т. Кустиков, Т.А. Баранова, Е.Н. Данилович ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» Проведены исследования зависимости мощности дозы от времени P_g(t) при подъеме и опускании источников установки ГУ-200. Показано, что характер этой зависимости в конкретной точке поля излучения определяется удалением этой точки от корпуса облучателей установки, её возвышением над рабочим столом и, в общем случае, загрузкой одновременно испытываемыми образцами. Отработан метод оперативной оценки и учета значения эффективного времени подъема-опускания источников для конкретной точки поля излучения, определены характерные значения этого времени *Ключевые слова:* установка ГУ-200, эффективное время подъема источников, дозиметрическое сопровождение испытаний
61-71	*ОЦЕНКА ВАРИАЦИИ ЭФФЕКТИВНОСТИ ФОТОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ УСТАНОВКИ ГУ-200 В ПРЕДЕЛАХ ЕЁ ИСПЫТАТЕЛЬНОГО БОКСА* В.С. Фигуров, В.В. Байков, В.В. Шелковников, О.Т. Кустиков, Т.А. Баранова, Е.Н. Данилович ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» Экспериментально по интегральным откликам по ионизационному току фотодиода ФД-24, мощного диода 2Д213 с медным радиатором и микросхемы 5584ИР8Т на воздействие квазиимпульсов фотонного излучения установки ГУ-200 определены оценки вариации эффективности этого излучения в пределах испытательного бокса установки для кремниевых изделий. Определена оценка влияния двухслойного PlAl-контейнера (наружный слой ~2,0 мм Pb, внутренний слой ~0,8 мм Al) на эффективность излучения установки ГУ-200 *Ключевые слова:* эффективность излучения, установка ГУ-200, «квазиимульсы» излучения, интегральные отклики, двухслойный контейнер
72-82	ОПЫТ СОВМЕСТНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ УСТАНОВОК РИУС-5 И УИН-10 ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДОСТОВЕРНОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИСПЫТАНИЙ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ НА СТОЙКОСТЬ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ИМПУЛЬСНЫХ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ В.С. Фигуров, В.Н. Улимов, В.В. Байков, В.В. Шелковников, Н.С. Больных, А.П. Метелёв, А.А. Фёдоров ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» Показано, что совместное использование установок РИУС-5 и УИН-10 позволяет проводить оценку уровней пороговых сбоев изделий электронной техники (ИЭТ) при воздействии импульсных ионизирующих излучений (ИИИ) с заданной (типовой) формой импульса, а также оценку значений времени потери работоспособности испытываемых изделий при воздействии излучения с заданным значением дозы за импульс (до ~3·10⁴ Р). Проведена экспериментальная оценка относительной эффективности фотонных излучений установок РИУС-5 и УИН-10 для микросхемы 564ЛА7 *Ключевые слова:* эффективное время релаксации, пороговые сбои, время потери работоспособности, доза за импульс, достоверность испытаний
83-92	МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ ОЦЕНКИ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ИМПУЛЬСНЫХ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ ПРИ НЕЛИНЕЙНОЙ ЗАВИСИМОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ОТКЛИКОВ ИЗДЕЛИЙ ОТ ЗНАЧЕНИЯ ДОЗЫ ЗА ИМПУЛЬС В.С. Фигуров Отработана методика экспериментальной оценки относительной эффективности импульсных ионизирующих излучений различных моделирующих установок по результатам определения интегральных откликов испытываемого изделия на воздействие импульсов излучения установки при нелинейной зависимости этих откликов от значения дозы за импульс. Метод отработан при испытаниях ИС 1485ХК4Т на установках РИУС-5 и АРСА *Ключевые слова:* относительная эффективность фотонных излучений, нелинейность откликов
93-106	ОЦЕНКА ЗАВИСИМОСТИ ОТКЛИКА МИКРОСХЕМЫ 1620РЕ4У-999 ПО ТОКУ ПОТРЕБЛЕНИЯ НА ВОЗДЕЙСТВИЕ ИМПУЛЬСНОГО ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ ОТ ФОРМЫ ИМПУЛЬСА ЭТОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В.С. Фигуров, В.В. Байков, В.В. Шелковников, Н.С. Больных ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» На основе результатов испытаний микросхемы ПЗУ 1620РЕ4У-999 отработана методика оценки зависимости ионизационных токов потребления микросхем с большим значением эквивалентной емкости от формы импульса ионизирующего излучения. Показано, что учет этой зависимости является необходимым условием обеспечения единства и достоверности результатов испытаний БИС КНИ на стойкость к воздействию излучения *Ключевые слова:* БИС КНИ, ионизационный ток потребления, форма импульса излучения
107-116	ИССЛЕДОВАНИЕ СТОЙКОСТИ СВЕТОДИОДОВ 3Л139БМ ОСМ К ЭФФЕКТАМ СМЕЩЕНИЯ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ПРОТОННОГО И ЭЛЕКТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЙ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА В.С. Фигуров¹, В.В. Байков¹, В.В. Шелковников¹, А.В. Градобоев², П.В. Рубанов³, С.А. Авдюшкин⁴, А.В. Юрченков⁴ ¹ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов», ²ОАО «Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов», ³Юргинский технологический институт Томского политехнического университета, ⁴ОАО «Информационные спутниковые системы» имени академика М.Ф. Решетнёва» Отработана методика определения по результатам испытаний на установке БАРС-4 фактической (предельной) стойкости светодиодов к эффектам смещения. Определена фактическая стойкость светодиодов 3Л139БМ ОСМ к эффектам смещения при воздействии излучения с характеристикой 7И₁ (Ф_0,1пр, ед./см²), протонного излучения с энергией 10 МэВ (Ф_{пр пр}(Е = 10 МэВ), протон·см^-2) и по структурной составляющей поглощённой дозы протонного и электронного излучений космического пространства *Ключевые слова:* стойкость светодиодов, эффект смещения, протонное, электронное излучение
117-122	*К ВОПРОСУ О ВЛИЯНИИ ЭКРАНИРОВАНИЯ НА ФОРМУ ИМПУЛЬСА ФОТОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ МОДЕЛИРУЮЩИХ УСТАНОВОК* В.С. Фигуров ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов» Проведена предварительная оценка влияния экранирующих объектов на эффективную длительность импульса фотонного излучения установки РИУС-5 по результатам определения эффективных длительностей откликов микросхемы 537РУ6 по току потребления и диода 2Д103А по обратному току на импульсы этой установки при их облучении без экранирования и при экранировании блоком радиоэлектронной аппаратуры и алюминиевой плитой. Показано, что для обеспечения единства результатов испытаний необходимо введение эталонной установки, моделирующей импульсное ионизирующее излучение (ИИИ), а также эталонных средств измерения основных характеристик ИИИ - значений дозы облучения за импульс и формы импульса излучения *Ключевые слова:* формы импульсов ионизирующих излучений, эталонные установки, средства измерений

Выпуск 4, 2011 г.